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HCTD高溫鐵電測試儀/參數分析儀

簡要描述:HCTD高溫鐵電測試儀/參數分析儀用于鐵電體的鐵電測量,。本測試系統主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數可編程放大器、模/數轉換器數/模轉化器、微機接口部分、微機和應用軟件等部分組成。

  • 產品型號:HCTD-800
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-06-04
  • 訪  問  量:2168

詳細介紹

品牌北京華測應用領域化工,能源,電子,航天,綜合

高溫鐵電測試儀-

產品名稱:高溫鐵電測試儀-

產品型號:HCTD-800

品牌:北京華測


產品介紹

本測試儀用于鐵電體的鐵電測量,。本測試系統主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數可編程放大器、模/數轉換器數/模轉化器、微機接口部分、微機和應用軟件等部分組成。

本測試系統采用虛地模式測量電路,與傳統的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環節,比較容易定標和,并且能實現較高的測量準確度,它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數,以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測試。能夠較全面準確地測量鐵電薄膜的鐵電。儀器采用一體化設計,實現測試結果全數字化,操作簡單方便。

鐵電材料參數測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發生器及正、負矩形脈沖和雙極性雙脈沖發生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關特性測量電路構成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關特性,可準確地測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為一臺通用信號發生器、高壓信號發生器使用。



產品特點

  • 電滯回線測量、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr、矯頑場±Ec、電容量C等參數

  • 鐵電疲勞測量

  • 鐵電保持測量

  • 電阻測量

  • 漏電流測量

  • 精度高的三維移動平臺



軟件功能

HC5000系列測試系統的軟件平臺hacepro,采用labview系統開發,符合導體、半導體材料的各項測試需求,具備穩定性與an全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢復。兼容,XP、win7、win10系統。

友善的使用界面

多語界面:支持中文/英文 兩種語言界面;

即時監控:系統測試狀態即時瀏覽,無需等待;

圖例管理:通過軟件中的狀態圖示,一目了然,立即對狀態說明,了解測試狀態;

使用權限:可設定使用者的權限,方便管理;

故障狀態:軟件具有設備的故障報警功能。



硬件支持

  • 集成Intel@Celeron1037U1.8GHZ雙核處理器

  • 集成打印機接口,可擴充8USB接口

  • 支持16G內存,60G固體硬盤,讓系統運行流暢。



應用領域

  • 鐵電材料的電滯回線(動態與靜態)、漏電流等特性。

  • 測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應。

  • 超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性。



技術參數

1、電壓范圍:±30V(可擴展至±4KV)

2、輸出電流峰值:±1A

3、負荷電容max:1μF

4、動態電滯回線測試頻率:0.001Hx~100kHz

5、鐵電材料漏電流的測試:10pA~100mA

6、脈沖寬度min:25ns

7、上升時間:7ns

8、極化測試精準到:10fC

9、塊體材料樣品盒可進行室溫~1200℃電滯回線測定

HCTD高溫鐵電測試儀/參數分析儀

HCTD高溫鐵電測試儀/參數分析儀




 

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