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  • HCDH-3華測一體式耐電弧試驗儀
    HCDH-3華測一體式耐電弧試驗儀

    更新時間:2024-08-30

    型號:HCDH-3

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    華測一體式耐電弧試驗儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備,適于用于電氣絕緣 材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、 絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸姸?和耐電壓時間的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途。根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗方法》IEC 61621及ASTM D495設(shè)計、制造的
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  • HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗儀*
    HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗儀*

    更新時間:2024-08-30

    型號:HCDH-4

    瀏覽量:1630

    硅橡膠耐電弧試驗儀*是根據(jù) GB/T 1411-2002《固體絕緣材料耐高壓低電流電弧放電的試驗》(等同 IEC 61621-1997)及 ASTM D495 等標準的要求設(shè)計制造的,并符合 IEC 149、UL 746A 等試驗方法。本儀器由絕緣標準制定單位全國絕緣材料標準化技術(shù)委員會監(jiān)制。主要用于電機、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆
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  • HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗測試儀器
    HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗測試儀器

    更新時間:2024-08-30

    型號:HCDH-4

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    HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗測試儀器是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備,適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途。
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  • HCDH-4北京華測耐電弧試驗儀
    HCDH-4北京華測耐電弧試驗儀

    更新時間:2024-08-30

    型號:HCDH-4

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    HCDH-4北京華測耐電弧試驗儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備,適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途。
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  • HCDH -4耐電弧試驗儀
    HCDH -4耐電弧試驗儀

    更新時間:2024-06-03

    型號:HCDH -4

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    HCDH-4耐電弧試驗儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備,適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途。
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  • HCWP-S高低溫介電溫譜測試儀器
    HCWP-S高低溫介電溫譜測試儀器

    更新時間:2023-08-08

    型號:HCWP-S

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    高低溫介電溫譜測試儀器適用于鐵電壓電陶瓷材料、各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃半導體器件及功能薄膜材料等研究。 用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、因數(shù)Q等物理量。該儀器用于科研機關(guān)、學校、工廠等單位對無機金屬新材料的應(yīng)用研究科研機關(guān)、高校、工廠等地方。
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  • HCRD-300電弱點測試儀器
    HCRD-300電弱點測試儀器

    更新時間:2024-06-13

    型號:HCRD-300

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    電弱點測試儀器主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點測試。該系列產(chǎn)品的主要特點是能根據(jù)薄膜的使用寬度進行電弱點的測試,測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定,無須將膜分切成小卷,免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實地反映薄膜的質(zhì)量水平。
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  • HCWP系列高溫介電溫譜試驗儀
    HCWP系列高溫介電溫譜試驗儀

    更新時間:2024-06-04

    型號:HCWP系列

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    高溫介電溫譜試驗儀主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學測試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測試軟件于一體,可測試材料的介電常數(shù),介質(zhì)損耗,阻抗譜Co-Co圖,機電耦合系數(shù)等,同時可分析被測樣品隨溫度,頻率,時間變化的曲線,測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。
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